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為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實現(xiàn)...

Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...

非接觸式輪廓儀優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采...

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。

iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機械測量系統(tǒng)，設(shè)計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進行準確，可重復的納米級機械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...

Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測，其...

Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術(shù)地位之作。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...

高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。 在SmartScanAuto有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...

Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統(tǒng)是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。 可測量聚合...

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是世界上先將表面等離子體共振技術(shù)和光學顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀。可以同時得到細胞原位明場成像、SPR成像、及S...

與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...

公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...

桌面型多場輔助化學機械拋光設(shè)備,最大兼容4英寸樣品，可定制特殊尺寸拋光頭。3-8氣路通道。使用專門結(jié)構(gòu)“兩點波珠定位”法蘭設(shè)計。定位準確，拆裝方便。 保持環(huán)/樣品獨立氣壓控制，可實現(xiàn)多段施壓。

原子層沉積系統(tǒng)鍍膜機經(jīng)濟型科研沉積平臺 穩(wěn)定成膜、均勻可靠、面向材料研究便捷、穩(wěn)定、再現(xiàn)性高

緊湊型臺式光刻系統(tǒng)重新定義無掩模光刻技術(shù)LITHO MASKLESS 是一款緊湊型臺式光刻系統(tǒng)利用基于 UV LED 的 DLP 引擎實現(xiàn)無掩模圖案化。設(shè)計簡潔，精準它將微加工技術(shù)從潔凈室和任何研究或...

SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動晶圓鍵合設(shè)備，具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計保證鍵合的壓盤相對水平，優(yōu)良的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計，方便簡潔的菜單編輯和設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控以及安全保...

自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學元件應用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、 光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三...

晶圓翹曲應力測量儀具備三維翹曲（平整度）及薄膜應力的檢測功能，適用于半導體晶圓生產(chǎn)、半導體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)

從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價。白光干涉原理。

Strain Viewer 內(nèi)應力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應力分布測量及缺陷篩查等檢測功能